Conforme o syllabus, qual afirmação descreve corretamente a cobertura N-switch no teste de transição de estados?

1. A. A cobertura N-switch aplica-se a sequências válidas de N+1 transições consecutivas (chamadas N-switches); a cobertura 0-switch é igual à cobertura de transições válidas; um 1-switch é um par de transições de entrada e saída em um estado; cobertura 100% 2-switch ou superior só é indicada para alto risco de falha devido a sequências inesperadas de eventos, já que o número de N-switches pode crescer exponencialmente com N ✓ A
2. B. A cobertura N-switch aplica-se a sequências inválidas de N+1 transições, onde cada N-switch representa uma sequência de transições inválidas que é rejeitada pelo modelo baseado em estados do sistema, e os itens de cobertura são as sequências inválidas de comprimento N+1 que exercitam o comportamento de tratamento de erro da máquina de estados 💬 B
3. C. A cobertura N-switch é idêntica à cobertura round-trip, já que ambos os critérios exigem loops no modelo baseado em estados e nenhum distingue entre sequências válidas e inválidas de transições consecutivas, sendo a única diferença que N-switch usa um comprimento fixo enquanto round-trip geralmente usa loops de comprimento variável que começam e terminam no mesmo estado 💬 C
4. D. A cobertura N-switch exige 100% de cobertura 5-switch para a maioria dos sistemas, independentemente do nível de risco ou da complexidade do modelo baseado em estados em teste, para garantir cobertura completa das sequências de seis transições consecutivas, embora o syllabus recomende explicitamente cobertura N-switch superior para sistemas com alto risco de falha devido a sequências inesperadas de eventos ocorrendo durante a execução do sistema 💬 D

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Correct answer: A cobertura N-switch aplica-se a sequências válidas de N+1 transições consecutivas (chamadas N-switches); a cobertura 0-switch é igual à cobertura de transições válidas; um 1-switch é um par de transições de entrada e saída em um estado; cobertura 100% 2-switch ou superior só é indicada para alto risco de falha devido a sequências inesperadas de eventos, já que o número de N-switches pode crescer exponencialmente com N

Reference: https://istqb.org/wp-content/uploads/sdm-uploads/ISTQB-CTAL-TA-Syllabus-v4.0-EN-4.pdf